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1 YD-T 3037.2-2023 - 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC.pdf
2 YD-T 3037.1-2023 - 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端.pdf
3 GB T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法.pdf
4 GB T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法.pdf
5 GB T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法.pdf
6 GB T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法.pdf
7 GB T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法.pdf
8 GB T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法.pdf
9 GB T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法.pdf
10 YD-T 4539-2023 - 基于近场通信(NFC)的移动通信终端和非接触式销售点(PoS)的互操作要求和测试方法.pdf