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1 YD-T 3037.2-2023 - 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC.pdf
2 YD-T 3037.1-2023 - 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端.pdf
3 GB T 43040-2023 半导体集成电路 AC DC变换器测试方法.pdf
4 YD-T 4539-2023 - 基于近场通信(NFC)的移动通信终端和非接触式销售点(PoS)的互操作要求和测试方法.pdf
5 YD-T 4490-2023 - LTE数字蜂窝移动通信网 增强型机器类型通信(eMTC) 终端设备测试方法(第二阶段).pdf
6 YD-T 4489-2023 - LTE Cat 1bis数字蜂窝移动通信网终端设备测试方法.pdf
7 YD-T 4417-2023 - IP网络基于UDP的多路复用安全传输协议(QUIC)测试方法.pdf
8 GB T 42576-2023 北斗 全球卫星导航系统(GNSS)高精度片上系统(SoC)技术要求及测试方法.pdf
9 GB T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法.pdf
10 GB T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法.pdf