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1 GB T 42897-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法.pdf
2 GB T 42896-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法.pdf
3 GB T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法.pdf
4 GB T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法.pdf
5 GB T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法.pdf
6 GB T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法.pdf
7 GB T 38341-2019 微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法.pdf
8 GB T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法.pdf
9 GB T 38447-2020 微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法.pdf
10 DL/T 624—2023 - 继电保护微机型试验装置技术条件.pdf