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1 GB T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法.pdf
2 GB T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法.pdf
3 GB T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法.pdf
4 GB T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法.pdf
5 GB T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法.pdf
6 GB T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法.pdf
7 GB T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法.pdf
8 GB T 15750-2008 压电陶瓷材料性能测试方法 老化性能的测试.pdf
9 GB T 31967.3-2025 稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分:电阻率的测试.pdf
10 GB T 46135.2-2025 有机发光电子 空穴功能材料测试方法 第2部分:光学性能.pdf